四探针方阻电阻率检测仪适用于企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用AD芯片控制，恒流输出。

四探针半导体电阻率测量仪参照标准： 1.硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》. 4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

半导电低阻双电四探针测试仪测量范围:电 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

增塑剂电阻测定仪同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I，通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算，然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值。

半导电四探针电阻测试仪功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，最大分类10类。